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NVM測試

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NVM測試要求發生演變，泰克4200A一體化測試解決方案集中進行表征

NVM測試要求發生演變，泰克4200A一體化測試解決方案集中進行表征

NVM（非易失性內存）測試要求的演變促使泰克4200A一體化測試解決方案通過集中式表征技術，為科研人員和工程師提供了高效、精準的測試能力。一、NVM測試要求的演變傳統測試方法的局限性DC儀器與示波器的缺陷：傳統測試依賴DC儀器（如源測量單元SMU）或示波器，存在操作復雜、測試功能有限、數據提取耗時等問題。例如，示波器需在脈沖傳送時才能測量......

2020-11-18

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